EMMI微光显微镜

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企业类型: 外商独资
经营模式: 其他
员工人数: 11 - 50 人
注册资金: 人民币 500 万元 - 1000 万元
联 系 人: 郑芸芸
地 址: 广东 深圳 深圳市南山区高新南七道数字技术园A1栋1楼B区
邮 编: 518000
电 话: 86 755 86153371
手 机:13824332729
传 真:86 755 86153375
网 站:http://avens_zheng.cn.sunmen.com

详细说明

對於故障分析而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測能力,可偵測到半導體元件中電子-電洞對再結合時所發射出來的光線,能偵測到的波長約在 350nm ~ 1100nm 左右。它可以廣泛的應用於偵測IC中各種元件缺陷所產生的漏電流,如: Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage 等。 偵測的到亮點之情況: 會產生亮點的缺陷 - Junction Leakage; Contact spiking; Hot electrons; Latch-Up; Gat oxide defects / Leakage(F-N current); Poly-silicon filaments; Substrate damage; Mechanical damage及Junction Avalanche等 原來就會有的亮點 - Saturated/ Active bipolar transistors; -Saturated MOS/Dynamic CMOS; Forward biased diodes/Reverse biased diodes(break down) 等 偵測不到亮點之情況: 不會出現亮點的故障 - Ohmic short及Metal short 亮點被遮蔽之情況 - Buried Junctions及Leakage sites under metal
EMMI微光显微镜
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公司名称: 宜智发科技(深圳)有限公司
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手 机:13824332729
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